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雷尼绍推出新型SFP2表面光洁度测量探头

导读: 坐标测量机(CMM)是一种通过用探针感应物体表面上的点来测量物体几何形状的设备。Renishaw是坐标测量机生产领域的领导者,并且最近宣布推出其SFP2,这是一款专为配合CMM的REVO 5轴测量系统而设计的表面光洁度测量探头。

坐标测量机(CMM)是一种通过用探针感应物体表面上的点来测量物体几何形状的设备。Renishaw是坐标测量机生产领域的领导者,并且最近宣布推出其SFP2,这是一款专为配合CMM的REVO 5轴测量系统而设计的表面光洁度测量探头。新型SFP2探头增加了REVO系统的表面光洁度测量能力,REVO系统在单个坐标测量机上提供触摸触发器、高速触觉扫描和非接触式视觉测量的多传感器功能。

雷尼绍推出新型SFP2表面光洁度测量探头

结合CMM的表面光洁度测量和尺寸检测相对于需要单独处理的更传统检测方法来说具有几个优点。SFP2的自动化表面光洁度检测由5轴测量技术提供支持,可节省大量时间,减少零件处理量,并获得更高的CMM投资回报。SFP2系统包括一个探头和一系列模块,并可与REVO提供的所有其他探头选件自动互换。这意味着用户可以灵活地选择他们需要的工具来检查同一个CMM平台上的各种功能。来自多个传感器的数据会自动参考一个公共数据。

雷尼绍推出新型SFP2表面光洁度测量探头

表面处理系统由与REVO系统相同的I ++ DME兼容界面管理,雷尼绍的MODUS计量软件提供全面的用户功能。

其他优势包括与标准CMM检测程序完全集成的表面光洁度管理,这归功于使用MRS-2机架和RCP TC-3端口自动更换SFP2探针和触针支架。SFP2探头利用REVO的无限定位和5轴移动功能,以及一个整体式C轴探头和各种几何形状探头,模块和支架之间的关节连接提供了最难以触及的特征。

雷尼绍的5轴REVO测量系统是CMM的唯一扫描系统,它可同时控制三个机床和两个头轴的运动,同时收集工件数据。传统上,表面测量是使用手持式传感器进行的,或者要求将零件移动到专用测量机器上。REVO系统使表面测量更容易,将其集成到CMM测量中,并允许用户在扫描和表面光洁度测量之间切换。

雷尼绍推出新型SFP2表面光洁度测量探头

凭借其2D和3D触觉探头,可提高表面光洁度测量和非接触式视觉探头的范围,REVO系统使得对CMMs的部件检测更加快速和准确。

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